A.聲阻抗相差大
B.聲阻抗相差小
C.衰減小
D.聲速相差小
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A.線(xiàn)狀?yuàn)A渣
B.與探測(cè)面垂直的大而平的缺陷
C.密集氣孔
D.未焊透
A.在整個(gè)探測(cè)表面上保持水距一致
B.保證最大水距
C.保證聲束的入射角橫定為15º
D.保證聲束對(duì)探測(cè)面的角度為5º
A.導(dǎo)致熒光屏圖像中失去底面回波
B.難以對(duì)平行于入射面的缺陷進(jìn)行定位
C.通常表示在金屬中存在疏松狀態(tài)
D.減小試驗(yàn)的穿透力
A.10mm
B.4密碼
C.1個(gè)波長(zhǎng)
D.4倍波長(zhǎng)
A.波形轉(zhuǎn)換
B.壓電效應(yīng)
C.折射
D.阻抗匹配
最新試題
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
儀器水平線(xiàn)性影響（）。
實(shí)際檢測(cè)中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來(lái)表征。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
超聲波儀時(shí)基線(xiàn)的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。