A.與2mm平底孔的面積相同
B.較2mm平底孔要大
C.略小于2mm平底孔
D.約為2mm平底孔面積的一半
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你可能感興趣的試題
A.工件中的氣孔
B.掃描線
C.標(biāo)記模式
D.電干擾
A.用接觸法
B.水浸法和相當(dāng)于水浸的方法
C.用接觸法或水浸法
D.用盡可能最高靈敏度的方法
A.當(dāng)材料厚度等于超聲波波長(zhǎng)的一半時(shí),會(huì)加強(qiáng)超聲波的能量
B.當(dāng)材料厚度小于超聲波波長(zhǎng)的四分之一時(shí),會(huì)使聲波能量有不可忽視的損失
C.當(dāng)材料厚度等于聲波波長(zhǎng)時(shí),波形轉(zhuǎn)換將產(chǎn)生剪切波
D.以上都不是
A.前表面反射的幅度
B.多次反射模式
C.所有的表面反射
D.以上都不是
A.3.2x105Hz
B.4.3x105Hz
C.8.6x105Hz
D.6.4x105Hz
最新試題
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯(cuò)誤的是()。
單探頭法容易檢出()。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
()是影響缺陷定量的因素。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯(cuò)誤的是()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。