A.CSK-IA
B.CSK-IIA
C.CSK-IIIA
D.CSK-IVA
E.以上都是
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A.前后掃查
B.左右掃查
C.轉(zhuǎn)角與環(huán)繞掃查
D.以上都是
A.5-10mm
B.10-20mm
C.根據(jù)母材厚度30%計(jì)算
D.以上都是
A.校準(zhǔn)后的探頭粘合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕發(fā)生改變時(shí)
B.檢測(cè)人員懷疑掃描量程或掃描靈敏度有變化時(shí)
C.連續(xù)工作四小時(shí)以上時(shí)
D.工作結(jié)束時(shí)
E.以上都是
A.一星期
B.一個(gè)月
C.三個(gè)月
D.六個(gè)月
A.百分之十
B.百分之十五
C.百分之二十
D.百分之二十五
最新試題
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
()是影響缺陷定量的因素。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來(lái)表征。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。