單項(xiàng)選擇題JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：探頭的掃查速度不應(yīng)超過（）,當(dāng)采用自動(dòng)報(bào)警裝置時(shí)，不受此限。
A.100mm/s
B.150mm/s
C.200mm/s
D.50mm/s
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1.單項(xiàng)選擇題JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：探頭每次掃查覆蓋率應(yīng)大于探頭直徑的（）
A.5％
B.10%
C.15%
D.20%
2.單項(xiàng)選擇題JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：儀器和探頭的組合頻率與公稱頻率誤差不得大于（）
A.±5%
B.±10%
C.±15%
D.±20%
3.單項(xiàng)選擇題JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：晶片面積一般不大于（），且任一邊長原則上不大于25mm。
A.250mm2
B.400mm2
C.500mm2
D.625mm2
4.單項(xiàng)選擇題JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：水平線性誤差不大于（）
A.1％
B.0.5％
C.2％
D.5％
5.單項(xiàng)選擇題經(jīng)雇主授權(quán)后，1級人員可按無損檢測指導(dǎo)書執(zhí)行下列哪些任務(wù)（）
A.調(diào)整設(shè)備和檢測
B.記錄和分類檢測結(jié)果及報(bào)告檢測結(jié)果
C.質(zhì)量評級
D.A和B
最新試題
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。
題型：單項(xiàng)選擇題
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
題型：單項(xiàng)選擇題
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。
題型：單項(xiàng)選擇題
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
超聲檢測對缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
題型：單項(xiàng)選擇題
實(shí)際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
單探頭法容易檢出（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
用橫波斜探頭檢測，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
題型：單項(xiàng)選擇題