A.內(nèi)壁及外壁
B.只在內(nèi)壁
C.只在外壁
D.在內(nèi)壁刻至深度為壁厚的一半
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A.3dB
B.6dB
C.9dB
D.以上都不是
A.1dB
B.2dB
C.3dB
D.6dB
A.縱向
B.周向
C.徑向
D.橫向
A.靈敏度試塊
B.對(duì)比試塊
C.標(biāo)準(zhǔn)試塊
D.自然缺陷試塊
A.±5%
B.±10%
C.±15%
D.±20%
最新試題
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為()。