A.使磁場(chǎng)變?nèi)酰?br />
B.使磁導(dǎo)率降低;
C.產(chǎn)生漏磁場(chǎng);
D.產(chǎn)生電流
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A.磁粉的流動(dòng)性不再對(duì)檢驗(yàn)有影響;
B.直流電易于達(dá)到磁場(chǎng)飽和;
C.交流電的趨膚效應(yīng)使可發(fā)現(xiàn)缺陷的深度變小
D.沒有技術(shù)方面的理由
A.紫外光是可見光;
B.用來熒光磁粉探傷的紫外波長(zhǎng)是3650埃;
C.被檢工件表面上的紫外光光強(qiáng)不得低于970lx
D.波長(zhǎng)小于3300³10m的紫外光對(duì)人眼有害;
E.除A以外都對(duì)-10
A.交流電磁化時(shí)在切斷電流反向以前;
B.磁化電流切斷以后;
C.通電過程中;
D.施加磁粉時(shí)
A.縱向磁化;
B.周向磁化;
C.復(fù)合磁化;
D.剩余磁化
A.周向磁化;
B.縱向磁化;
C.A和B;
D.A和B都不是
最新試題
磁粉檢測(cè)—橡膠鑄型法是采用連續(xù)法檢測(cè)。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:剩磁應(yīng)不大于0.3mT(240A/m)。
組合裝配件應(yīng)分解后再進(jìn)行磁粉檢測(cè)。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:當(dāng)辯認(rèn)細(xì)小缺陷磁痕時(shí)應(yīng)用2~10倍放大鏡進(jìn)行觀察。
干磁粉可采用手動(dòng)或電動(dòng)噴粉器以及其他合適的工具來施加,施加時(shí)磁粉應(yīng)厚些撒在工件表面上。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:大型工件可使用交流電磁軛進(jìn)行局部退磁或采用纏繞電纜線圈分段退磁。
采用剩磁法時(shí),磁懸液應(yīng)在通電結(jié)束后再施加,一般通電時(shí)間為2~3s。
標(biāo)準(zhǔn)試塊主要用于檢驗(yàn)磁粉檢測(cè)的系統(tǒng)靈敏度,確定被檢工件的磁化規(guī)范。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:兩條或兩條以上缺陷磁痕在同一直線上且間距不大于2mm時(shí),按一條磁痕處理,其長(zhǎng)度為兩條磁痕之和加間距。
C型靈敏度試片與A型靈敏度試片使用方法相同,只是C型靈敏度試片能用于狹小部位。