A、縱波；
B、壓縮波；
C、橫波；
D、表面波。
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A、脈沖寬度；
B、脈沖振幅；
C、脈沖形狀；
D、反射。
A、連續(xù)波；
B、直流峰值電壓；
C、超聲波；
D、電脈沖或脈沖。
A、入射角；
B、折射角；
C、缺陷取向；
D、上述三種都不對(duì)。
A、角度調(diào)整；
B、散射；
C、折射；
D、擴(kuò)散。
A、角度調(diào)整；
B、掃描；
C、距離-幅度變化修正；
D、標(biāo)定。
最新試題
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指（）。
實(shí)際檢測(cè)中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
用橫波斜探頭檢測(cè)，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
儀器水平線性影響（）。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的（）。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。