超聲波儀時基線的水平刻度與實際聲程成正比的程度，即（）。

調節(jié)時基線時，應使（）同時對準相應的聲程位置。

缺陷的定量包括缺陷大小和數量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。

（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。

直接接觸法是指探頭與工件之間（）。

底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。

（）是影響缺陷定量的因素。

檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。

測長法是根據測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。

在對缺陷進行定量前，必須先調節(jié)（）。