A.74dB
B.66dB
C.60dB
D.80dB
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A.發(fā)射電路在單位時(shí)間內(nèi)重復(fù)發(fā)射脈沖次數(shù)
B.掃描電路每秒鐘內(nèi)重復(fù)掃描次數(shù)
C.探頭晶片在單位時(shí)間內(nèi)向工件重復(fù)輻射超聲波次數(shù)
D.以上全部都是
A.1―2個(gè)
B.數(shù)十個(gè)到數(shù)千個(gè)
C.與工作頻率有同
D.以上都不對(duì)
A.靈敏度范圍
B.線性范圍
C.分辨力范圍
D.選擇性范圍
A.缺陷的性質(zhì)和大小
B.缺陷的形狀和取向
C.缺陷回波的大小和超聲傳播的時(shí)間
D.以上都是
A、聲束細(xì),每次掃查探測(cè)區(qū)域小,頻率低
B、每只探頭僅適宜探測(cè)某一深度范圍缺陷,通用性差
C、由于聲波的干涉作用和聲透鏡的球差,聲束不能完全匯聚一點(diǎn)
D、以上都是
最新試題
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
單探頭法容易檢出()。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
儀器水平線性影響()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。