對(duì)于鉬靶X射線管，在管電壓低于（）千伏時(shí)是不會(huì)產(chǎn)生特征X射線的。

一般認(rèn)為表面波探測(cè)的有效深度約為（）

以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響（）

底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是（）

超聲波斜探頭的K值等于（）的正切值。

康普頓效應(yīng)對(duì)射線檢測(cè)的影響包括（）

二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝，以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（）

以下試塊中，能用于測(cè)定縱波直探頭分辨力的是（）

當(dāng)射線穿透任何一物體時(shí)，部分被物體吸收，部分則穿透該物體，還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射，此散射為（）

原子是元素的具體存在，是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。