單項(xiàng)選擇題探頭中的換能器通常用壓電晶片來制作，當(dāng)壓電晶片受發(fā)射電脈沖激勵(lì)后產(chǎn)生振動(dòng)，即可發(fā)射聲脈沖，為（）效應(yīng)。
A.逆壓電
B.正壓電
C.壓電
D.壓差
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1.單項(xiàng)選擇題開槽的超聲參考試塊可用于（）。
A.確定缺陷深度
B.評(píng)定表面缺陷
C.作為評(píng)定長(zhǎng)條形缺陷的標(biāo)準(zhǔn)
D.作為評(píng)定點(diǎn)狀缺陷的標(biāo)準(zhǔn)
2.單項(xiàng)選擇題超聲波從材料1進(jìn)入材料2，隨聲阻抗比Z1/Z2的增大而透過的聲壓（）。
A.減小
B.增大
C.不變
D.可增大或減小
3.單項(xiàng)選擇題鑄件往往難以檢驗(yàn)，是因?yàn)椋ǎ?/a>
A.晶粒結(jié)構(gòu)非常致密
B.晶粒結(jié)構(gòu)粗大
C.流線均勻
D.缺陷任意取向
4.單項(xiàng)選擇題在遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)，同直徑的平底孔，聲程從200mm增大到300mm，若不計(jì)材質(zhì)衰減，則聲壓減?。ǎ?。
A.3倍
B.12dB
C.24dB
D.以上三個(gè)答案都不對(duì)
5.單項(xiàng)選擇題表征材料聲學(xué)特性的材質(zhì)衰減，主要是由（）所引起的。
A.散射和吸收
B.波束擴(kuò)散
C.介質(zhì)密度過大
D.缺陷類別
最新試題
二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝，以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
若評(píng)片燈亮度增為原來的兩倍，則底片透光度（It/I0）變?yōu)樵瓉淼模ǎ?/p>
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
不同材料的相對(duì)吸收系數(shù)（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
影響較大的散射線通常來自（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷，一般采用（）檢測(cè)。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
以下試塊中，能用于測(cè)定縱波直探頭分辨力的是（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
康普頓效應(yīng)對(duì)射線檢測(cè)的影響包括（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
對(duì)軸類鋼制鍛件，用2.5P14的直探頭，在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進(jìn)行靈敏度調(diào)整時(shí)，該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
超聲波斜探頭的K值等于（）的正切值。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題