A.水平線性、垂直線性、衰減器精度
B.靈敏度余量、盲區(qū)、遠(yuǎn)場分辨力
C.動態(tài)范圍、頻帶寬度、探測厚度
D.垂直線性、水平極限、重復(fù)頻率
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A.缺陷性質(zhì)判斷
B.缺陷大小判斷
C.缺陷的精確定位
D.以上都對
A.近場區(qū)
B.聲速擴(kuò)散角以外區(qū)域
C.始脈沖寬度和儀器阻塞恢復(fù)時間
D.以上均是
A.10~25MHz
B.1~1000MHz
C.1~5MHz
D.大于20000MHz
A.反射
B.折射
C.波型轉(zhuǎn)換
D.以上全部
A.60mSv
B.50mSv
C.40mSv
D.20mSv
最新試題
提出有效磁導(dǎo)率的是下列哪位科學(xué)家()
焊接工藝處理超標(biāo)缺陷必須閱片的主要目的是()。
點焊未熔合、脫焊等面狀缺陷最有效的檢測方法是X射線檢測。
產(chǎn)品焊接接頭最終質(zhì)量經(jīng)X射線檢驗合格后不得再實施影響接頭性能的加工(如校形、修刮、重熔等),否則應(yīng)重新申請進(jìn)行X射線檢測。
一次完整的補焊過程中缺陷是否排除X光透照確認(rèn)可以不限次數(shù),直至缺陷完全排除。
對于厚度變化較大的變截面工件透照,只要底片黑度符合GJB1187A的要求時,就可采用多膠片技術(shù)。
像質(zhì)計放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時可適當(dāng)減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。
檢測申請時工序狀態(tài)應(yīng)清楚、工序質(zhì)量應(yīng)符合工序質(zhì)量要求,檢驗蓋章確認(rèn),確保焊接、檢驗、檢測等全過程具有可追溯性。
X光檢驗組按復(fù)查清單組織復(fù)查,并出具X光底片復(fù)查報告,復(fù)查無遺留問題方可進(jìn)行試壓。
為了提高射線照相對比度,可以采用高電壓、短時間、大管電流的方式曝光。