單項選擇題組合雙晶直探頭的壓電晶片前裝有()
A.阻尼塊
B.匹配線圈
C.延遲塊
D.保護膜
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1.單項選擇題對于單晶斜探頭,在使用中經(jīng)常要校驗的參數(shù)是()
A.入射點或探頭前沿
B.折射角
C.聲軸線偏移或偏斜
D.以上都是
2.單項選擇題軟保護膜探頭使用于()的工件表面。
A.光結表面
B.粗糙表面
C.A和B
D.視具體情況
3.單項選擇題超聲波探頭的頻率與壓電晶片厚度有關,晶片越薄則()
A.頻率越低
B.頻率越高
C.頻率不變
D.以上都不對
4.單項選擇題目前工業(yè)常用的超聲波測厚儀利用的是()
A.連續(xù)波穿透法
B.脈沖波反射法
C.連續(xù)波共振法
D.剪切波諧振法
5.單項選擇題評價超聲波探傷儀在規(guī)定靈敏度下發(fā)現(xiàn)并顯示最小缺陷能力的指標是()
A.分辨率
B.時基線性
C.垂直線性
D.動態(tài)范圍
最新試題
調整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進行()。
題型:單項選擇題
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。
題型:單項選擇題
當縱波直探頭置于細長工件上時,在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
題型:單項選擇題
()是指在確定的聲程范圍內檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術要求或有關標準來確定。
題型:單項選擇題
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
題型:單項選擇題
靈敏度采用試塊調節(jié)法,下面說法錯誤的是()。
題型:單項選擇題
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
題型:單項選擇題
單探頭法容易檢出()。
題型:單項選擇題
利用底波計算法進行靈敏度校準時,適用的工件厚度為()。
題型:單項選擇題
()是影響缺陷定量的因素。
題型:單項選擇題