單項(xiàng)選擇題超聲波探頭的頻率與壓電晶片厚度有關(guān),晶片越薄則()

A.頻率越低
B.頻率越高
C.頻率不變
D.以上都不對(duì)


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1.單項(xiàng)選擇題目前工業(yè)常用的超聲波測(cè)厚儀利用的是()

A.連續(xù)波穿透法
B.脈沖波反射法
C.連續(xù)波共振法
D.剪切波諧振法

2.單項(xiàng)選擇題評(píng)價(jià)超聲波探傷儀在規(guī)定靈敏度下發(fā)現(xiàn)并顯示最小缺陷能力的指標(biāo)是()

A.分辨率
B.時(shí)基線(xiàn)性
C.垂直線(xiàn)性
D.動(dòng)態(tài)范圍

3.單項(xiàng)選擇題超聲波檢測(cè)儀的分辨率主要與()有關(guān)。

A.掃描電路
B.頻帶寬度
C.動(dòng)態(tài)范圍
D.放大倍數(shù)

4.單項(xiàng)選擇題可用來(lái)表示超聲波檢測(cè)儀與探頭組合性能的指標(biāo)是()

A.水平線(xiàn)性、垂直線(xiàn)性、動(dòng)態(tài)范圍
B.頻帶寬度、探測(cè)寬度、重復(fù)頻率
C.靈敏度余量、盲區(qū)、分辨率
D.入射點(diǎn)、進(jìn)場(chǎng)長(zhǎng)度、擴(kuò)散角

5.單項(xiàng)選擇題在下述測(cè)試項(xiàng)目中,與評(píng)價(jià)超聲波檢測(cè)儀主要性能有關(guān)的是()

A.分辨率
B.指向性和近場(chǎng)長(zhǎng)度
C.折射角和入射角
D.指示長(zhǎng)度

最新試題

底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱(chēng)為()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線(xiàn)所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線(xiàn)長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱(chēng)為()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來(lái)表征。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

調(diào)節(jié)時(shí)基線(xiàn)時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

單探頭法容易檢出()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題