單項(xiàng)選擇題晶片較大的探頭近場(chǎng)覆蓋面積()。
A.較小
B.較大
C.與之無(wú)關(guān)
D.以上說(shuō)法均不對(duì)
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
1.單項(xiàng)選擇題晶片較大的探頭遠(yuǎn)場(chǎng)覆蓋面積()。
A.較小
B.較大
C.與之無(wú)關(guān)
D.以上說(shuō)法均不對(duì)
2.單項(xiàng)選擇題晶片較小的探頭近場(chǎng)覆蓋面積()。
A.較小
B.較大
C.與之無(wú)關(guān)
D.以上說(shuō)法均不對(duì)
3.單項(xiàng)選擇題RD2半軸實(shí)物試塊卸荷槽處的人工裂紋距軸端()。
A.220mm
B.185mm
C.195mm
D.200mm
4.單項(xiàng)選擇題軸頸根部或卸荷曹槽探傷時(shí),小角度縱波探頭指向中心孔作往復(fù)移動(dòng)并偏轉(zhuǎn)()。
A.2°~3°
B.3°~4°
C.3°~5°
D.2°~5°
5.單項(xiàng)選擇題輪對(duì)檢修車(chē)軸的質(zhì)量保證期,要求廠修保證在()內(nèi)車(chē)軸輪座鑲?cè)氩考巴饴恫课徊涣褤p。
A.1個(gè)段修期
B.1個(gè)廠修期
C.1年
D.5年
最新試題
對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷,一般采用()檢測(cè)。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
通常所謂20KV的X射線是指()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
影響較大的散射線通常來(lái)自()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
康普頓效應(yīng)對(duì)射線檢測(cè)的影響包括()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝,以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述,哪一條是錯(cuò)誤的()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
原子是元素的具體存在,是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。
題型:判斷題
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關(guān)系是()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)(r、R為簡(jiǎn)體的內(nèi)、外徑),斜探頭(β為折射角)的臨界角應(yīng)滿足()
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題