A.低的；
B.中等的
C.高的；
D.非常高.
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A.靜態(tài)試驗(yàn)；
B.運(yùn)動(dòng)試驗(yàn)；
C.絕對(duì)線圈排列；
D.差動(dòng)線圈排列.
A.必須是差動(dòng)式的
B.必須是絕對(duì)式的
C.可以是任意型的
D.a和b最好
A.當(dāng)施加在偏轉(zhuǎn)板上的兩個(gè)電壓相位差90°時(shí)，出現(xiàn)直線示蹤；
B.試樣中存在裂紋時(shí)將產(chǎn)生相位移；
C.棒材直徑變化不能與裂紋影響區(qū)分開；
D.垂直偏轉(zhuǎn)板上無(wú)電壓時(shí)，熒光屏上將出現(xiàn)一個(gè)圓
A.操作者的能力；
B.被檢產(chǎn)品的用處；
C.試驗(yàn)速度、試驗(yàn)頻率、分選速度和產(chǎn)品的物理參量控制；
D.以上都是.
A.可檢驗(yàn)棒材、管材和絲材的表面和近表面裂紋；
B.不能測(cè)量含有表面裂紋的棒材直徑；
C.在非鐵棒材分選中的價(jià)值有限；
D.不受提離變化的影響.
最新試題
對(duì)于圓柱導(dǎo)體的外通過(guò)式線圈，其阻抗變大的情況有（）
對(duì)焊接接頭穩(wěn)定時(shí)間有規(guī)定的產(chǎn)品，工藝規(guī)程應(yīng)作出規(guī)定，檢驗(yàn)監(jiān)控確認(rèn)，檢驗(yàn)蓋章時(shí)穩(wěn)定時(shí)間不足者應(yīng)在申請(qǐng)單注明穩(wěn)定時(shí)間節(jié)點(diǎn)，否則X光室視為穩(wěn)定時(shí)間符合要求。
為了提高射線照相對(duì)比度，可以采用高電壓、短時(shí)間、大管電流的方式曝光。
X射線檢驗(yàn)人員負(fù)責(zé)對(duì)需排除的超標(biāo)缺陷實(shí)施定位、做好相應(yīng)標(biāo)注，確保定位準(zhǔn)確。
X射線檢測(cè)圖像直觀、缺陷定性準(zhǔn)確，因此焊接缺陷無(wú)論大小和延伸方向都可以選擇X射線檢測(cè)。
下面列出的確定透照布置應(yīng)考慮的基本內(nèi)容中，錯(cuò)誤的是（）。
觀察底片時(shí)，為能識(shí)別缺陷圖像，缺陷圖像對(duì)比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識(shí)別閾值。
X光檢驗(yàn)組按復(fù)查清單組織復(fù)查，并出具X光底片復(fù)查報(bào)告，復(fù)查無(wú)遺留問題方可進(jìn)行試壓。
對(duì)于厚度變化較大的變截面工件透照，只要底片黑度符合GJB1187A的要求時(shí)，就可采用多膠片技術(shù)。
按輻射安全管理規(guī)定，輻射作業(yè)場(chǎng)所每周應(yīng)進(jìn)行一次輻射劑量檢測(cè)。