單項選擇題穿過式探頭中測量繞組上的感應(yīng)電流的大?。ǎ?。

A.與測量繞組直徑無關(guān)
B.與測量繞組直徑成正比
C.與測量繞組直徑平方成正比
D.與測量繞組直徑立方成正比


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1.單項選擇題自比差動式線圈中,兩個測量繞組的接法是()。

A.第一個繞組的“頭”接第二個繞組的“尾”
B.第二個繞組的“頭”接第一個繞組的“尾”
C.第一個繞組的“頭”接第二個繞組的“頭”
D.以上三種均可以

2.單項選擇題有效磁導(dǎo)率μeff是指()。

A.試件的真實磁導(dǎo)率
B.真空磁導(dǎo)率
C.一個假設(shè)的隨試件各點性能變化的磁導(dǎo)率
D.標(biāo)準(zhǔn)試件的相對磁導(dǎo)率

3.單項選擇題描述檢測線圈能區(qū)分開兩個最近缺陷距離的術(shù)語是()。

A.分辨力
B.準(zhǔn)確度
C.靈敏度
D.線性度

4.單項選擇題在檢驗渦流探傷設(shè)備時,所謂的漏檢率與錯檢率,在通常情況下,是指檢驗()。

A.自然傷
B.缺陷的絕對深度
C.標(biāo)準(zhǔn)傷
D.缺陷的絕對體積

5.單項選擇題渦流探傷中所說的靈敏度應(yīng)是指()。

A.信號幅度與噪聲幅度之比
B.信號相位與噪聲相位之比
C.信號頻率與噪聲頻率之比
D.信號寬度與噪聲寬度之比

最新試題

二次打底焊接或重熔排除,無需辦理相關(guān)手續(xù),直接使用前次的申請手續(xù)。

題型:判斷題

送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應(yīng)符合工藝規(guī)程或工藝處理意見的要求,經(jīng)表面檢驗合格,申請單無需檢驗蓋章確認(rèn)。

題型:判斷題

在射線照相檢驗中,隨著射線能量的提高,得到的圖像不清晰度也將增大。

題型:判斷題

超差缺陷是否排除,由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請、檢驗蓋章認(rèn)可后送X光檢測。

題型:判斷題

X射線檢驗人員負(fù)責(zé)對需排除的超標(biāo)缺陷實施定位、做好相應(yīng)標(biāo)注,確保定位準(zhǔn)確。

題型:判斷題

按輻射安全管理規(guī)定,輻射作業(yè)場所每周應(yīng)進(jìn)行一次輻射劑量檢測。

題型:判斷題

產(chǎn)品焊接接頭最終質(zhì)量經(jīng)X射線檢驗合格后不得再實施影響接頭性能的加工(如校形、修刮、重熔等),否則應(yīng)重新申請進(jìn)行X射線檢測。

題型:判斷題

缺陷分類應(yīng)符合驗收標(biāo)準(zhǔn)的要求,標(biāo)準(zhǔn)未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗范疇的缺陷,必要時可予以注明供有關(guān)人員參考,但不作為合格與否判定的依據(jù)。

題型:判斷題

焊接工藝處理超標(biāo)缺陷必須閱片的主要目的是()。

題型:單項選擇題

底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。

題型:判斷題