A.回波頻率變化是由介質(zhì)對(duì)不同頻率超聲波衰減不同而引起的
B.對(duì)于金屬材料介質(zhì)，衰減的主要原因是散射
C.由于高頻部分衰減大，低頻部分衰減小，回波信號(hào)中心頻率下降
D.衰減造成各頻率分量聲壓的下降，但回波信號(hào)的中心頻率沒有改變
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A.寬帶探頭波束中包含各種不同頻率分量
B.高頻分量分布在波束中心的附近
C.低頻分量分布在波束的邊緣
D.用儀器測(cè)量周期時(shí)間計(jì)算得到的直通波頻率，實(shí)際上是回波頻率而不是探頭發(fā)出的信號(hào)頻率
A.窄帶寬
B.中帶寬
C.寬帶寬
D.帶寬與粗晶材料檢測(cè)特性無關(guān)
A.提高帶寬有利于縱向分辨力的提高，但將使靈敏度損失
B.壓電復(fù)合材料不須采用背阻尼來提高帶寬
C.TOFD探頭的帶寬一般指-6dB帶寬
D.一般規(guī)定帶寬在76-110%范圍的探頭為寬帶探頭
A.可加工形狀復(fù)雜的探頭
B.聲速、聲阻抗等參數(shù)易于改變
C.在較大溫度范圍內(nèi)特性穩(wěn)定
D.價(jià)格低
A.減少平均數(shù)數(shù)量
B.減少需要進(jìn)行數(shù)字化采樣的A掃長(zhǎng)度
C.減少數(shù)字化采樣的頻率
D.以上都對(duì)
最新試題
二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝，以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（）
在工作中超聲波檢測(cè)儀屏幕上可能會(huì)出現(xiàn)（）等信號(hào)波，需要仔細(xì)判別。
調(diào)節(jié)掃描速度時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。
對(duì)于鉬靶X射線管，在管電壓低于（）千伏時(shí)是不會(huì)產(chǎn)生特征X射線的。
對(duì)軸類鋼制鍛件，用2.5P14的直探頭，在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進(jìn)行靈敏度調(diào)整時(shí)，該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于（）
對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷，一般采用（）檢測(cè)。
一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線，穿過一個(gè)厚度為X的物質(zhì)，其強(qiáng)度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響（）
最容易發(fā)生光電效應(yīng)的射線能量為（）
底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是（）