A.樣本的代表性比較好，抽樣誤差比較小
B.抽樣實(shí)施方便
C.抽樣誤差小
D.抽樣手續(xù)簡(jiǎn)單
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A.AQL
B.RQL
C.N
D.p0，p1
A.大批量鹼驗(yàn)
B.檢驗(yàn)費(fèi)用高的產(chǎn)品批驗(yàn)收
C.生產(chǎn)質(zhì)量不穩(wěn)定的批交檢
D.允許有較大的誤判風(fēng)險(xiǎn)的情形
E.較高質(zhì)量保證的場(chǎng)合
A.整群
B.隨機(jī)
C.簡(jiǎn)單隨機(jī)
D.系統(tǒng)
A.總體中的每個(gè)個(gè)體被抽到的機(jī)會(huì)是相同的
B.抽樣誤差小
C.抽樣手續(xù)比較繁雜
D.樣本的代表性比較好
A.可以
B.不可以
C.無法判斷
D.需重新檢驗(yàn)
最新試題
在GB/Tl3262--2008中，（）確定抽檢方案的基本要素。
計(jì)數(shù)標(biāo)準(zhǔn)型抽樣檢驗(yàn)中，確定抽檢方案的基本要素是p0，p1，關(guān)于p0，p1值(p0
評(píng)價(jià)抽樣方案經(jīng)濟(jì)性的指標(biāo)有（ ?。?。
簡(jiǎn)單隨機(jī)抽樣的缺點(diǎn)是（）。
某電子產(chǎn)品經(jīng)檢驗(yàn)后才能出廠，其合格率應(yīng)不小于95%。現(xiàn)隨機(jī)抽取100個(gè)檢驗(yàn)，發(fā)現(xiàn)有7個(gè)不合格品，問該批產(chǎn)品能否出廠（）。(取α＝0.05)
特殊檢驗(yàn)水平主要用于（）。
分層抽樣法的優(yōu)點(diǎn)是（）。
分層抽樣法的缺點(diǎn)是（）。
企業(yè)從供應(yīng)商處采購(gòu)的一批元器件是在不同的月份生產(chǎn)的，驗(yàn)收該批產(chǎn)品時(shí)最適宜的抽樣方法（）。
GB/Tl3262--2008是以批不合格品率為質(zhì)量指標(biāo)的計(jì)數(shù)標(biāo)準(zhǔn)型一次抽樣檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。