A.TOFD檢測(cè)使用的探頭脈沖更新
B.TOFD檢測(cè)使用的探頭頻帶更寬
C.TOFD檢測(cè)使用的探頭頻率更高
D.TOFD檢測(cè)使用的擴(kuò)散角更大
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A.脈沖重復(fù)頻率就是觸發(fā)探頭發(fā)射超聲脈沖數(shù)
B.脈沖重復(fù)頻率就是系統(tǒng)接收存儲(chǔ)的信號(hào)數(shù)
C.脈沖重復(fù)頻率的選擇與數(shù)字化采樣的頻率無(wú)關(guān)
D.脈沖重復(fù)頻率的選擇與數(shù)字化采樣的A掃長(zhǎng)度無(wú)關(guān)
A.電壓過(guò)高使信號(hào)振幅變大,分辨力降低
B.電壓過(guò)高使壓電陶瓷損壞
C.電壓過(guò)高使能耗增大,電池工作時(shí)間減短
D.以上都不對(duì)
A.信號(hào)振幅變大,余波變長(zhǎng)
B.信號(hào)振幅變小,余波減少
C.對(duì)信號(hào)影響不大
D.以上都不對(duì)
A.100ns
B.50ns
C.25ns
D.10ns
A.超聲脈沖是靠矩形脈沖的前沿和后沿使壓電元件振動(dòng)而產(chǎn)生的
B.矩形脈沖的前沿和后沿觸發(fā)的超聲脈沖信號(hào)相位相反
C.改變脈沖寬度可以使觸發(fā)的超聲脈沖信號(hào)變強(qiáng)或者變?nèi)?br/>D.如欲改進(jìn)檢測(cè)分辨力,應(yīng)將脈沖寬度設(shè)置成探頭中心頻率的周期的一半時(shí)間
最新試題
底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是()
在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)(r、R為簡(jiǎn)體的內(nèi)、外徑),斜探頭(β為折射角)的臨界角應(yīng)滿(mǎn)足()
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響()
不同材料的相對(duì)吸收系數(shù)()
通常所謂20KV的X射線(xiàn)是指()
一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線(xiàn),穿過(guò)一個(gè)厚度為X的物質(zhì),其強(qiáng)度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()
一般認(rèn)為表面波探測(cè)的有效深度約為()
康普頓效應(yīng)對(duì)射線(xiàn)檢測(cè)的影響包括()
超聲波探頭上標(biāo)稱(chēng)的頻率是()
調(diào)節(jié)掃描速度時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。