A.材料晶粒粗大
B.波速不均勻
C.不適用頻率低的探頭
D.聲特性阻抗變化大
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A.底波降低或消失
B.有較高的“噪聲”顯示
C.使超聲波穿透力降低
D.以上全部
A.精確對(duì)缺陷定位
B.精確測(cè)定缺陷形狀
C.測(cè)定缺陷的動(dòng)態(tài)波形
D.以上方法同時(shí)使用
A.評(píng)定缺陷大小
B.判斷缺陷性質(zhì)
C.確定缺陷位置
D.測(cè)量缺陷長(zhǎng)度
A.縱波
B.橫波
C.表面波
D.在給定材料中波速與所有波型無(wú)關(guān)
A.質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)方向垂直于傳播方向，傳播速度約為縱波速度的1/2
B.在水中傳播時(shí)波長(zhǎng)較長(zhǎng)、衰減小，故有很高的靈敏度
C.因?yàn)闄M波對(duì)表面變化不敏感，所以從耦合液體傳遞到被檢物體時(shí)有高的耦合率
D.上述三種都不適用于橫波
最新試題
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
實(shí)際檢測(cè)中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。