A.鍵合頭運(yùn)動(dòng)到焊盤的速度太大,易造成GaAs器件出坑B.球太小導(dǎo)致堅(jiān)硬的鍵合頭接觸了焊盤C.過高的超聲能導(dǎo)致Si晶格點(diǎn)陣的破壞積累D.在Al的超聲鍵合中,絲線太硬容易導(dǎo)致彈坑的產(chǎn)生
A.楔形鍵合B.載帶自動(dòng)鍵合C.倒裝鍵合D.球形鍵合
A.焊接壓力B.超聲波C.焊接溫度D.燈光亮度