A.對缺陷深度測量精度影響很大
B.對缺陷高度測量精度影響很大
C.對缺陷長度測量精度影響很大
D.對缺陷偏離軸線位置的測量精度影響很大
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你可能感興趣的試題
A.缺陷深度
B.信號脈沖的長度
C.探頭中心間距
D.晶片尺寸
A.嚴(yán)重影響缺陷高度的測量精度
B.嚴(yán)重影響V形坡口根部缺陷的檢出
C.只在非平行掃查中存在
D.只在平行掃查中存在
A.隨探頭折射角減小而減小,隨底面焊縫寬度的增大而增大
B.隨探頭折射角減小而增大,隨底面焊縫寬度增大而增大
C.隨探頭折射角減小而減小,隨探頭脈沖寬度減小而減小
D.隨探頭折射角減小而增大,隨探頭脈沖寬度減小而增大
A.探頭脈沖周期減少可以減小直通波盲區(qū)
B.如果PCS減小,則直通波盲區(qū)減小
C.增加探頭頻率可以減小直通波盲區(qū)
D.減小探頭晶片尺寸可以減小直通波盲區(qū)
A.近表面深度測量,時間上一個很小的誤差會給深度帶來很大的誤差
B.近表面深度測量,深度上一個很小的誤差會給時間帶來很大的誤差
C.減小探頭中心間距可以改善近表面區(qū)域的分辨力
D.增加探頭頻率可以改善近表面區(qū)域的分辨力
最新試題
若評片燈亮度增為原來的兩倍,則底片透光度(It/I0)變?yōu)樵瓉淼模ǎ?/p>
影響較大的散射線通常來自()
康普頓效應(yīng)對射線檢測的影響包括()
在筒身外壁做曲面周向探傷時(r、R為簡體的內(nèi)、外徑),斜探頭(β為折射角)的臨界角應(yīng)滿足()
射線照片上細(xì)節(jié)影像的可識別性主要決定于()
對于平行于檢測面的缺陷,一般采用()檢測。
底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關(guān)系是()
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響()
底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是()
光電效應(yīng)發(fā)生的機率隨什么變化()