A.表面粗糙且檢測(cè)靈敏度要求低的工件,宜采用水洗型著色法或水洗型熒光法
B.表面光潔且檢測(cè)靈敏度要求高的工件,宜采用后乳化型著色法或溶劑去除型著色法
C.大工件的局部檢測(cè),宜采用溶劑去除型著色法或溶劑去除型熒光法
D.現(xiàn)場(chǎng)無(wú)水源、無(wú)電源的檢測(cè),宜采用溶劑去除型著色法
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A.鍋爐
B.氣瓶
C.工業(yè)管道
D.載人航天器
A.鐵素體
B.滲碳體
C.珠光體
D.奧氏體
A.水洗型滲透劑
B.后乳化型滲透劑
C.溶劑去除型滲透劑
D.水基滲透劑
A.熒光磁粉
B.非熒光磁粉
C.濕法用磁粉
D.干法用磁粉
A.顯像劑均是溶液
B.滲透劑是溶液
C.溶劑清洗劑是懸浮液
D.顯像液是乳狀液
最新試題
對(duì)軸類鋼制鍛件,用2.5P14的直探頭,在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進(jìn)行靈敏度調(diào)整時(shí),該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于()
以下試塊中,能用于測(cè)定縱波直探頭分辨力的是()
當(dāng)射線穿透任何一物體時(shí),部分被物體吸收,部分則穿透該物體,還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射,此散射為()
在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)(r、R為簡(jiǎn)體的內(nèi)、外徑),斜探頭(β為折射角)的臨界角應(yīng)滿足()
對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷,一般采用()檢測(cè)。
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響()
二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝,以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述,哪一條是錯(cuò)誤的()
物質(zhì)對(duì)輻射的吸收是隨什么而變()
原子是元素的具體存在,是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。
使用變型波檢測(cè)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是()