穿透法靈敏度高于脈沖反射法。

底波高度法經(jīng)常作為缺陷回波法的一種輔助手段。

利用IIW試塊上的φ50孔兩側面的距離，只能測定直探頭盲區(qū)的大致范圍。

斜探頭楔塊上部和前部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。

測定組合靈敏度時，應先調節(jié)儀器的“抑制”旋鈕，使電燥聲電平≦10%，再進行測試。

標準試塊的材質應盡可能與被檢工件相同或相近。

斜探頭前部磨損較多時，探頭的K值將變小。

CSKⅠA試塊上R100和R50兩個階梯圓弧面可用來調節(jié)橫波掃描速度和探測范圍。

“靈敏度”意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力，因此超聲波探傷靈敏度越高越好。

多探頭法是用兩個以上的探頭同時工作的檢測方法。