縱波直探頭法主要用于檢測與檢測面平行的缺陷。

所謂“幻影回波”，是由于探傷頻率過高或材料晶粒粗大引起的。

標(biāo)準(zhǔn)試塊的材質(zhì)應(yīng)盡可能與被檢工件相同或相近。

橫波法主要用于檢測與檢測面成一定傾角的缺陷。

軟保護(hù)膜探頭可減少粗糙表面對探傷的影響。

測定“始脈沖寬度”時，應(yīng)將儀器的靈敏度調(diào)至最大。

穿透法靈敏度高于脈沖反射法。

利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離，只能測定直探頭盲區(qū)的大致范圍。

斜探頭前部磨損較多時，探頭的K值將變小。

穿透法的最大優(yōu)點(diǎn)是不存在盲區(qū)，但小缺陷易漏檢。