判斷題在通用AVG曲線上,可直接查得缺陷的實(shí)際聲程和當(dāng)量尺寸。
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曲面工件探傷時(shí),探傷面曲率半徑愈大,耦合效果愈好。
題型:判斷題
脈沖反射法可對(duì)缺陷定性、定量和定位。
題型:判斷題
工件比較粗糙時(shí),為防止探頭磨損和保護(hù)晶片,宜選用硬保護(hù)膜。
題型:判斷題
測定組合靈敏度時(shí),應(yīng)先調(diào)節(jié)儀器的“抑制”旋鈕,使電燥聲電平≦10%,再進(jìn)行測試。
題型:判斷題
測定儀器垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍時(shí),應(yīng)將儀器的“抑制”和“深度補(bǔ)償”旋鈕置于關(guān)的位置。
題型:判斷題
所謂“幻影回波”,是由于探傷頻率過高或材料晶粒粗大引起的。
題型:判斷題
雙晶直探頭傾角越大,交點(diǎn)離探測面距離愈遠(yuǎn),覆蓋區(qū)愈大。
題型:判斷題
當(dāng)量法用來測量大于聲束截面的缺陷的尺寸。
題型:判斷題
脈沖重復(fù)頻率的調(diào)節(jié)與被探工件厚度有關(guān),對(duì)厚度大的工件,應(yīng)采用較低的重復(fù)頻率。
題型:判斷題
斜探頭楔塊上部和前部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處,減少聲能損失。
題型:判斷題