判斷題工件比較粗糙時(shí),為防止探頭磨損和保護(hù)晶片,宜選用硬保護(hù)膜。
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最新試題
檢測面的選擇主要考慮缺陷取向,并結(jié)合工件形狀和檢測技術(shù)綜合考慮。
題型:判斷題
縱波斜探頭法的優(yōu)點(diǎn)是工件中既有縱波,又有橫波,因此可同時(shí)用縱波和橫波進(jìn)行缺陷檢測。
題型:判斷題
標(biāo)準(zhǔn)試塊的材質(zhì)應(yīng)盡可能與被檢工件相同或相近。
題型:判斷題
利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離,只能測定直探頭盲區(qū)的大致范圍。
題型:判斷題
測定“始脈沖寬度”時(shí),應(yīng)將儀器的靈敏度調(diào)至最大。
題型:判斷題
多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。
題型:判斷題
曲面工件探傷時(shí),探傷面曲率半徑愈大,耦合效果愈好。
題型:判斷題
斜探頭楔塊上部和前部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處,減少聲能損失。
題型:判斷題
脈沖重復(fù)頻率的調(diào)節(jié)與被探工件厚度有關(guān),對厚度大的工件,應(yīng)采用較低的重復(fù)頻率。
題型:判斷題
脈沖反射法可對缺陷定性、定量和定位。
題型:判斷題