判斷題多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。
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縱波直探頭法主要用于檢測與檢測面平行的缺陷。
題型:判斷題
與IIW試塊相比,CSKⅠA試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測定斜探頭的分辨力。
題型:判斷題
實(shí)際探傷中,為提高掃查速度,減少雜波的干擾,應(yīng)將探傷靈敏度適當(dāng)降低。
題型:判斷題
目前使用最廣泛的超聲測厚儀是脈沖反射式測厚儀。
題型:判斷題
雙晶直探頭傾角越大,交點(diǎn)離探測面距離愈遠(yuǎn),覆蓋區(qū)愈大。
題型:判斷題
“靈敏度”意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力,因此超聲波探傷靈敏度越高越好。
題型:判斷題
多探頭法是用兩個(gè)以上的探頭同時(shí)工作的檢測方法。
題型:判斷題
底波高度法經(jīng)常作為缺陷回波法的一種輔助手段。
題型:判斷題
CSKⅠA試塊上R100和R50兩個(gè)階梯圓弧面可用來調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測范圍。
題型:判斷題
斜探頭前部磨損較多時(shí),探頭的K值將變小。
題型:判斷題