縱波直探頭法主要用于檢測(cè)與檢測(cè)面平行的缺陷。

脈沖重復(fù)頻率的調(diào)節(jié)與被探工件厚度有關(guān)，對(duì)厚度大的工件，應(yīng)采用較低的重復(fù)頻率。

所謂“幻影回波”，是由于探傷頻率過(guò)高或材料晶粒粗大引起的。

穿透法靈敏度高于脈沖反射法。

目前使用最廣泛的超聲測(cè)厚儀是脈沖反射式測(cè)厚儀。

與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測(cè)定斜探頭的分辨力。

CSKⅠA試塊上R100和R50兩個(gè)階梯圓弧面可用來(lái)調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測(cè)范圍。

縱波斜探頭法的優(yōu)點(diǎn)是工件中既有縱波，又有橫波，因此可同時(shí)用縱波和橫波進(jìn)行缺陷檢測(cè)。

液浸法的優(yōu)點(diǎn)之一是聲耦合穩(wěn)定，檢測(cè)結(jié)果重復(fù)性好。

軟保護(hù)膜探頭可減少粗糙表面對(duì)探傷的影響。