A.絕對(duì)深度
B.相對(duì)深度
C.斜井垂直深度
D.水平井垂直深度
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A.絕對(duì)深度
B.相對(duì)深度
C.斜井垂直深度
D.絕對(duì)—相對(duì)深度
A.絕對(duì)深度
B.相對(duì)深度
C.斜井垂直深度
D.自動(dòng)深度
A.絕對(duì)深度、相對(duì)深度
B.人工深度
C.儀器的深度
D.相對(duì)深度
A.各次測(cè)量電纜受力不同
B.井口置零不當(dāng)
C.探測(cè)儀記錄點(diǎn)的深度延遲計(jì)算有誤
D.各種測(cè)井曲線的測(cè)量原理不同
A.下井儀器的重量
B.儀器與井壁的接觸狀態(tài)
C.測(cè)速
D.儀器的工作狀態(tài)
最新試題
脈沖中子能譜測(cè)井儀的主要用途是什么?
電容法持水率計(jì)的現(xiàn)場(chǎng)刻度要求是什么?
水平井中氣水兩相流動(dòng)時(shí)的流型有哪些?
井壁微電阻率掃描成像儀極板和井壁的間隙增大會(huì)()儀器的垂向分辨率。
超聲波成像測(cè)井的影響因素為工作頻率、()、測(cè)量距離、目的層的表面結(jié)構(gòu)、目的層的傾角和巖石的波阻抗差異。
多極子陣列聲波測(cè)井的重復(fù)測(cè)井與主測(cè)井的波列特征應(yīng)相似,縱波時(shí)差重復(fù)曲線與主測(cè)井曲線形狀相同,重復(fù)測(cè)量值相對(duì)重復(fù)誤差應(yīng)小于()。
微電阻率成像測(cè)井無(wú)效(壞)電極數(shù)不應(yīng)超過(guò)()。
核磁共振弛豫包括()。
井壁微電阻率掃描成像儀器在均勻介質(zhì)中測(cè)量時(shí),發(fā)自極板體的電扣電流和推靠器中心支架棒上的聚焦電流構(gòu)成的電流線總是相似的,與介質(zhì)的電阻率()。
()古潛山是指一定地質(zhì)時(shí)期由褶皺作用形成的古山頭,潛山本身就是一個(gè)背斜。