A.量具引起的波動(dòng)
B.操作者與測(cè)量對(duì)象的交互作用引起的波動(dòng)
C.測(cè)量對(duì)象間本身的波動(dòng)
D.操作者引起的波動(dòng)
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A.產(chǎn)品內(nèi)的變異是主要變異源
B.產(chǎn)品內(nèi)的變異和產(chǎn)品間變異幾乎相同
C.產(chǎn)品間的變異是主要變異源
D.時(shí)間變異是主要變異源
A.過程能力足夠好，不需要改進(jìn)
B.減小過程標(biāo)準(zhǔn)差，同時(shí)調(diào)整過程均值至公差中心
C.減小過程標(biāo)準(zhǔn)差
D.調(diào)整過程均值至公差中心
A.繪制xbar-R控制圖需要20組以上的數(shù)據(jù)，若當(dāng)收集10組數(shù)據(jù)后機(jī)器出現(xiàn)故障，則需等機(jī)器調(diào)試合格后重新采集20組以上數(shù)據(jù)
B.當(dāng)xbar-R控制圖出現(xiàn)失控，工程師應(yīng)該重新修改控制界限
C.xbar-R控制圖中有樣本點(diǎn)失控，則代表所抽取的樣本中有超規(guī)格的產(chǎn)品
D.xbar-R控制圖中沒有樣本點(diǎn)失控，則代表所抽取的樣本都在產(chǎn)品規(guī)格內(nèi)
A.獲得市場(chǎng)上的缺陷數(shù)據(jù)并追蹤改正措施
B.建立最佳流程參數(shù)組合
C.提前預(yù)防失效模式，降低風(fēng)險(xiǎn)
D.針對(duì)過程和產(chǎn)品設(shè)計(jì)建立因果分析圖
A.標(biāo)準(zhǔn)差越大，西格瑪水平越高，缺陷率越低
B.標(biāo)準(zhǔn)差越大，西格瑪水平越高，缺陷率越高
C.標(biāo)準(zhǔn)差越大，西格瑪水平越低，缺陷率越低
D.標(biāo)準(zhǔn)差越大，西格瑪水平越低，缺陷率越高
最新試題
數(shù)據(jù)可分為定性數(shù)據(jù)和定量數(shù)據(jù)，對(duì)/錯(cuò)，通過/未通過之類的信息屬于（）數(shù)據(jù)。
不良質(zhì)量成本與西格瑪水平的關(guān)系是（）
要分析影響切割尺寸的各種原因，適用的工具是（）
KANO模型對(duì)顧客需求進(jìn)行分類，以下說法正確的有（）
DMAIC路徑中D階段的工作內(nèi)容不包括（）
為減少不同規(guī)格產(chǎn)品在生產(chǎn)線的切換時(shí)間，可以采用的主要方法是（）
（）描述一組數(shù)據(jù)的波動(dòng)指標(biāo)有。
作業(yè)分析時(shí)提高動(dòng)作經(jīng)濟(jì)性的方法包括（）
快速換型中的內(nèi)部時(shí)間指的是（）
標(biāo)準(zhǔn)作業(yè)是采用最佳的（），并最好地利用人、機(jī)器、工具和材料去完成工作，然后發(fā)展標(biāo)準(zhǔn)工作流程讓所有人遵守。