A.操作簡便，適用于局部或現(xiàn)場檢測
B.聲能損失較少，可以提供較大的穿透能力
C.相同條件下，可提供更高的檢測靈敏度
D.以上都是
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A.檢測大厚度零件，選擇較低的頻率是為了減少表面散射損耗
B.檢測小厚度零件，選擇較高的頻率是為了提高分辨力
C.檢測晶粒粗大零件，選擇較低的頻率是為了提高小缺陷檢測能力
D.以上都正確
A.受檢件的熱處理狀態(tài)、表面狀態(tài)、可能的加工余量；
B.受檢件的材料牌號、制造工藝、尺寸；
C.受檢件受力方向、影響使用性能的缺陷種類及形成原因；
D.受檢件材料及形狀、缺陷位置及取向、驗(yàn)收要求。
A.平底孔
B.V型槽
C.橫通孔
D.以上都可以
A.平底孔
B.V型槽
C.橫通孔
D.以上都可以
A.堿性類
B.甘油類
C.硅基類
D.以上都不適用
最新試題
實(shí)際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
探頭延檢測面水平移動，超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為（）。
用橫波斜探頭檢測，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
（）可以對管路、管道進(jìn)行長距離檢測。