A.分析元素能夠與可能引起干擾的樣品基體分離，消除了大部分干擾
B.與溶液直接噴霧進樣相比，氫化物發(fā)生方式對待測元素可充分預(yù)富集，進樣效率近100%
C.連續(xù)氫化物發(fā)生裝置宜于實現(xiàn)自動化
D.以上都對
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A.直接利用氫化反應(yīng)中產(chǎn)生的氫氣作為可燃氣體，不需外加燃氣
B.原子化在含有惰性保護氣體的強還原性介質(zhì)中進行
C.基態(tài)原子在測定區(qū)有效停留時間長
D.消除了化學(xué)火焰中產(chǎn)生的待測組分與火焰組分間的相互作用
A.干擾元素與待測元素的熒光譜線重疊
B.火焰的熱輻射
C.散熱光的干擾
D.ABC都對
A.光譜干擾
B.熒光猝滅干擾
C.化學(xué)干擾
D.電離干擾
A.減少散射光干擾主要減少散射微粒
B.選擇靈敏度高干擾小的直躍線熒光或階躍線熒光線進行測定是消除散射光干擾最有效方法
C.當(dāng)散射光干擾嚴(yán)重時可用空白溶液測定分析線處的散射光強度予以校正
D.熒光猝滅干擾是指受輻射激發(fā)的原子與氣體分子發(fā)生碰撞所引起的熒光強度升高的現(xiàn)象
A.燈電流過大會影響檢出限和穩(wěn)定性
B.在滿足分析靈敏度條件下不宜設(shè)置過高負高壓
C.載氣流量過小火焰不穩(wěn)定測定重現(xiàn)性差
D.火焰自下而上是干燥區(qū)原子化器蒸發(fā)區(qū)電離化合區(qū)
最新試題
軟電離離子化能量高，分子離子的碎片信息豐富，提供的分子官能團等結(jié)構(gòu)信息。
程序升溫是一種氣相色譜分析技術(shù)，用于改善組分的分配比、傳質(zhì)速率、分離度、峰型和提高分析速度，以達到用最短時間獲得最佳分離的目的。
場致變寬是指在外加場或者帶電粒子形成的場作用下，電子能級進一步發(fā)生分裂而導(dǎo)致的變寬效應(yīng)，在原子吸收分析中，場變寬不是主要變寬。
石墨管式原子化器的檢測限比火焰原子化器高，注入的試樣幾乎可全部原子化，基態(tài)原子在光路中停留的時間短。
從色譜流出曲線上通?？梢垣@得色譜峰的各種保留值，進行定性分析。
在AAS測試中的化學(xué)干擾可通過化學(xué)分離，使用高溫火焰，加入釋放劑和保護劑，加入緩沖劑或基體改進劑等方法來克服。
采用外標(biāo)法檢測樣品時，對進樣量的準(zhǔn)確性沒有要求，不適用于大批量試樣的快速分析。
離子選擇性電極的校準(zhǔn)曲線的直線部分所對應(yīng)的離子活度范圍稱為離子選擇性電極的線性范圍。
不同基團的某一種振動形式可能會在同一頻率范圍內(nèi)都有紅外吸收。
在AAS測試中，石墨爐原子化時，灰化的的目的是去除基體，尤其是有機質(zhì)的去除。在不損失待測原子時，使用盡可能高的溫度和長的時間。