A.越高越好
B.越低越好
C.不太高的頻率
D.較尋常為高的頻率
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A.面積大的,當(dāng)量也一定大
B.面積大的,當(dāng)量不一定比面積小的為大
C.面積大的,當(dāng)量反而要比面積小的要小
D.它們的當(dāng)量相等
A.聚焦探頭
B.直探頭
C.斜探頭
D.串列雙斜探頭
A.四倍
B.6dB
C.12dB
D.9dB
A.一倍
B.9dB
C.12dB
D.124dB
A.可變角的探頭
B.直探頭
C.斜探頭
D.收/發(fā)聯(lián)合雙晶探頭
最新試題
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯(cuò)誤的是()。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
()是影響缺陷定量的因素。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。