A.等于入射角
B.與使用的耦合劑有關(guān)
C.與使用頻率有關(guān)
D.等于折射角
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A.放大管
B.脈沖管
C.陰極射線管
D.掃描管
A.不太高頻率的探頭
B.較高頻率的探頭
C.硬保護(hù)膜探頭
D.上述三種均無需考慮
A.越高越好
B.越低越好
C.不太高的頻率
D.較尋常為高的頻率
A.面積大的,當(dāng)量也一定大
B.面積大的,當(dāng)量不一定比面積小的為大
C.面積大的,當(dāng)量反而要比面積小的要小
D.它們的當(dāng)量相等
A.聚焦探頭
B.直探頭
C.斜探頭
D.串列雙斜探頭
最新試題
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯(cuò)誤的是()。
檢測靈敏度太高和太低對(duì)檢測都不利。靈敏度太低,()。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。