A.不低于評(píng)定線靈敏度
B.不低于基準(zhǔn)線靈敏度
C.不低于定量線靈敏度
D.不低于判廢線靈敏度
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A.DAC、DAC-10db、DAC-16db
B.DAC-4db、DAC-10db、DAC-16db
C.DAC-2db、DAC-8db、DAC-14db
D.以上都不是
A.70°或60°
B.45°
C.K1.5、K2、K2.5
D.以上A或C
A.1MHz
B.2MHz
C.2.5MHz
D.2~2.5 MHz
A.一次反射
B.直射
C.二次波
D.以上都不是
A.母材寬度的30%
B.母材厚度的30%
C.母材的寬度1/2
D.母材厚度1/2
最新試題
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
()是影響缺陷定量的因素。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為()。
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來(lái)表征。