A.Ⅰ級(jí)
B.Ⅱ級(jí)
C.Ⅲ級(jí)
D.Ⅳ級(jí)
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A.Ⅰ級(jí)
B.Ⅱ級(jí)
C.Ⅲ級(jí)
D.Ⅳ級(jí)
A.<5mm
B.<8mm
C.<10mm
D.<15mm
A.不低于評(píng)定線靈敏度
B.不低于基準(zhǔn)線靈敏度
C.不低于定量線靈敏度
D.不低于判廢線靈敏度
A.DAC、DAC-10db、DAC-16db
B.DAC-4db、DAC-10db、DAC-16db
C.DAC-2db、DAC-8db、DAC-14db
D.以上都不是
A.70°或60°
B.45°
C.K1.5、K2、K2.5
D.以上A或C
最新試題
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來(lái)表征。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。