A.當(dāng)超聲波的波長(zhǎng)遠(yuǎn)大于金屬晶粒大小時(shí)
B.當(dāng)超聲波的波長(zhǎng)等于或小于金屬晶粒大小時(shí)
C.當(dāng)超聲波的頻率過(guò)低或晶粒過(guò)小時(shí)
D.當(dāng)螢光屏上不出現(xiàn)草從回波時(shí)
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當(dāng)超聲波斜入射至界面時(shí)，發(fā)生反射與折射，并發(fā)生波型轉(zhuǎn)換，其關(guān)系遵守斯涅耳定律：
此定律適用范圍的正確說(shuō)法是（）
A.只適用于入射波是橫波的情況
B.只適用于入射波是縱波的情況
C.只適用于折射波是橫波的情況
D.適用于縱波與橫波的的折射與反射情況
A.提高探傷靈敏度及分辨力
B.增加穿透能力
C.與探傷儀匹配減小噪聲
D.提高抗干擾能力
A.提高靈敏度
B.減小育區(qū)，提高分辨力
C.增加探頭重量
D.以上都是
A.防止探頭磨損
B.消除水晶和金屬面之間的空氣
C.便于探頭移動(dòng)
D.以上全是
A.40
B.4
C.10
D.100
最新試題
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
實(shí)際檢測(cè)中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為（）。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。
單探頭法容易檢出（）。