在橫波探傷中，探頭K值對探傷（）有較大的影響。

探傷中采用軌頭側面校對法，它主要適用于（）的校對。

探頭移動過程中同時作（）轉動，稱為擺動掃查。

根據(jù)接頭鋼軌下顎裂紋形成的原因，可知其具有從（）逐步擴展的特點。

探傷工藝規(guī)程編制應對受檢工件的（）做好記錄。

使用雙探頭掃查時，如盲目改變掃查方向，將會導致（）。

超聲波探傷探頭的型式一般有（）等。

在探傷中選用較高的頻率，將會使得（）因而發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力強，可提高對缺陷的定位精度。

由于各種試件的結構、質量要求不同，可能缺陷的（）不一樣，因而探測面可能是試件的所有面，也可能是其中的幾個面，甚至只有一個可探測面。

探傷工藝規(guī)程編制的內容有很多，其中包括（）。