剝離層下核傷可采用軌顎法進行校對，用軌顎校對法校對時，需在鋼軌表面校對的靈敏度的基礎上增加（）。

耦合劑應選擇容易附著在試件的表面上，有足夠的浸潤性以排除（）之間由于表面粗糙造成的空氣間隙。

探傷工藝流程中探傷技術規(guī)范主要指的是（）

探傷工技師對設備調(diào)整中的（）的相關知識應了解。

在橫波探傷中，探頭K值對探傷（）有較大的影響。

探傷掃查過程中，探頭的方向應根據(jù)（）進行布局和掃查。

由于各種試件的結構、質(zhì)量要求不同，可能缺陷的（）不一樣，因而探測面可能是試件的所有面，也可能是其中的幾個面，甚至只有一個可探測面。

探傷工藝規(guī)程編制的內(nèi)容有很多，其中包括（）。

金相也可通過掃描電子顯微鏡、透射電子顯微鏡直接獲得，他們主要是用來觀察材料的位錯，放大倍數(shù)一般為（）倍。

為了提高探傷結果的可靠性，探傷前應對被檢工件的（）和形成規(guī)律以及受檢部位的受力方向等進行調(diào)查。