以下試塊中，能用于測定縱波直探頭分辨力的是（）

底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關系是（）

底片清晰度與膠片顆粒度的關系是（）

一個均勻的輻射光束強度為I0的射線，穿過一個厚度為X的物質(zhì)，其強度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）

二次波檢測是一種特殊的檢測工藝，以下關于二次波檢測的做敘述，哪一條是錯誤的（）

若評片燈亮度增為原來的兩倍，則底片透光度（It/I0）變?yōu)樵瓉淼模ǎ?/p>

某超聲波探頭，壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm，則該探頭工作頻率為（）

最容易發(fā)生光電效應的射線能量為（）

超聲波探頭上標稱的頻率是（）

光電效應發(fā)生的機率隨什么變化（）