A.影響缺陷的精確定位
B.影響AVG曲線或當量定量法的使用
C.導致小缺陷漏檢
D.以上都不對
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A.橫向分辨力降低
B.聲束擴散角增大
C.近場長度增大
D.指向性變鈍
A.應減小阻尼塊
B.應使用大直徑晶片
C.應使壓電晶片在它的共振基頻上激勵
D.換能器頻帶寬度應盡可能大
A.Q降低,靈敏度提高
B.Q值增大,分辨力提高
C.Q值增大,盲區(qū)增大
D.Q值降低,分辨力提高
A.儀器分辨力提高
B.儀器分辨力降低,但超聲強度增大
C.聲波穿透力降低
D.對試驗無影響
A.掃描長度
B.掃描速度
C.單位時間內重復掃描次數(shù)
D.鋸齒波電壓幅度
最新試題
超聲波儀時基線的水平刻度與實際聲程成正比的程度,即()。
底波計算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進行靈敏度校準。
探頭延檢測面水平移動,超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為()。
()是指在確定的聲程范圍內檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產品技術要求或有關標準來確定。
超聲檢測儀盲區(qū)是指()。
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
用折射角β的斜探頭進行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。
當調節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質衰減不同時,需要進行傳輸修正。
當縱波直探頭置于細長工件上時,在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。