用折射角β的斜探頭進行檢測，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。

儀器水平線性影響（）。

利用底波計算法進行靈敏度校準時，適用的工件厚度為（）。

（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。

底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。

超聲檢測對缺陷定位時，（）不是影響缺陷定位的主要因素。

（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。

底波計算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進行靈敏度校準。

用橫波斜探頭檢測，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。

缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。