A.直探頭在翼板上掃查探測
B.斜探頭在翼板外側(cè)或內(nèi)側(cè)掃查探測
C.直探頭在腹板上掃查探測
D.斜探頭在腹板上掃查探測
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A.宜采用較高頻率,一般為5MHZ
B.宜采用大角度斜探頭,其中β=70°探頭較好
C.宜采用粘度大的耦合劑,如黃油
D.一般以橫波斜探頭從主管探測為主,支管探測為輔
A.縱波斜探頭
B.橫波斜探頭
C.表面波探頭
D.縱波直探頭
A.用45°斜探頭探出
B.用直探頭探出
C.用任何探頭探出
D.反射訊號很小而導(dǎo)致漏檢
A.保持靈敏度不變
B.適當(dāng)提高靈敏度
C.增加大K值探頭探測
D.以上B和C
A.增大
B.減小
C.不變
D.以上A和B
最新試題
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
底波計算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
利用底波計算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時,適用的工件厚度為()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時,在第一次底波之后,還有2個特定位置的反射波,這種波是()。
實(shí)際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
()是影響缺陷定量的因素。
超聲檢測儀盲區(qū)是指()。
探頭延檢測面水平移動,超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為()。