A.放射源一般都比較小，所以都可以看做點(diǎn)源
B.只有源的直徑遠(yuǎn)小于探測(cè)器距源的距離時(shí)才可以將其看做點(diǎn)源
C.只有源的直徑遠(yuǎn)小于探測(cè)器敏感體積的尺寸時(shí)才可以將其看做點(diǎn)源
D.非點(diǎn)源情況下，無(wú)法用解析的方法計(jì)算探測(cè)效率
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A.測(cè)量開(kāi)始的時(shí)間
B.探測(cè)器本征探測(cè)效率
C.環(huán)境本底的計(jì)數(shù)率
D.源與探測(cè)器幾何位置關(guān)系
A.相對(duì)法需要一個(gè)已知活度的源作參照
B.使用相對(duì)法測(cè)量更加簡(jiǎn)便，所以是活度測(cè)量的基本方法
C.絕對(duì)法復(fù)雜一些，要結(jié)合各種實(shí)際的情況因素進(jìn)行考慮
D.為保證結(jié)果的精確性，使用絕對(duì)法測(cè)量時(shí)可以多次測(cè)量進(jìn)行分析
A.源的活度和能量是常見(jiàn)的輻射探測(cè)目標(biāo)
B.測(cè)量源的位置與遠(yuǎn)近距離可以用在輻射成像等領(lǐng)域上
C.暫時(shí)無(wú)法通過(guò)測(cè)量的信息分析入射粒子的種類
D.可以測(cè)量粒子的飛行時(shí)間
A.HPGe和Ge（Li）用于組成γ譜儀，Ge較高的密度和原子序數(shù)有利于γ射線探測(cè)
B.Si（Li）探測(cè)器可以作低能量的γ射線和X射線測(cè)量
C.Si（Li）探測(cè)器可以作β粒子或其他外部入射的電子的探測(cè)，因?yàn)樗有驍?shù)低，反散射小
D.Si（Li）探測(cè)器也適合測(cè)量高能γ射線
A.電流脈沖寬度約為μs量級(jí)
B.反符合技術(shù)有助于提高探測(cè)器峰康比
C.85立方厘米的高純鍺探測(cè)器的相對(duì)探測(cè)效率約為19%
D.能量線性很好
最新試題
改變下列哪項(xiàng)不會(huì)對(duì)活度探測(cè)產(chǎn)生明顯影響？（）
軔致輻射對(duì)γ能譜的影響，描述錯(cuò)誤的是（）。
測(cè)量厚樣品α源，下列說(shuō)法正確的是（）。
關(guān)于符合的描述，下列說(shuō)法正確的是（）。
下列關(guān)于反應(yīng)堆中子源的描述錯(cuò)誤的是（）。
下列關(guān)于真符合的描述錯(cuò)誤的是（）。
常見(jiàn)的241Am-9Be中子源中，9Be的作用是（）。
下列對(duì)γ能譜的描述，錯(cuò)誤的是（）。
關(guān)于中子的彈性、非彈性散射，下列說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。
下列關(guān)于符合曲線描述錯(cuò)誤的是（）。