A.不小于滿刻度的95%
B.不小于滿刻度的10%
C.不小于滿刻度的85%
D.達(dá)到滿刻度
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A.不小于滿刻度的95%
B.不小于滿刻度的10%
C.不大于滿刻度的95%
D.不大于滿刻度的10%
A.盡可能靠向凸耳兩側(cè)
B.聲束軸線與凸耳軸線垂直
C.聲束軸線向凸耳兩側(cè)傾斜一定角度
D.以上都是
A.裂紋
B.鍍層
C.分層
D.腐蝕
A.缺陷的性質(zhì)
B.缺陷的形狀
C.缺陷的尺寸
D.缺陷的位置
A.壁厚與外徑之比小于0.20
B.壁厚與外徑之比大于0.20
C.壁厚與內(nèi)徑之比小于0.20
D.壁厚與內(nèi)徑之比大于0.20
最新試題
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來(lái)表征。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
單探頭法容易檢出()。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。