A.由粗糙表面引起的聲能損失較小
B.表面盲區(qū)較小
C.人為因素影響較小
D.以上都是
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A.經(jīng)工件返回的聲能損失較大
B.不適用于檢測(cè)形狀復(fù)雜的零件
C.不易保持穩(wěn)定的耦合
D.以上都是
A.操作簡(jiǎn)便，適用于局部或現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)
B.聲能損失較少，可以提供較大的穿透能力
C.相同條件下，可提供更高的檢測(cè)靈敏度
D.以上都是
A.檢測(cè)大厚度零件，選擇較低的頻率是為了減少表面散射損耗
B.檢測(cè)小厚度零件，選擇較高的頻率是為了提高分辨力
C.檢測(cè)晶粒粗大零件，選擇較低的頻率是為了提高小缺陷檢測(cè)能力
D.以上都正確
A.受檢件的熱處理狀態(tài)、表面狀態(tài)、可能的加工余量；
B.受檢件的材料牌號(hào)、制造工藝、尺寸；
C.受檢件受力方向、影響使用性能的缺陷種類及形成原因；
D.受檢件材料及形狀、缺陷位置及取向、驗(yàn)收要求。
A.平底孔
B.V型槽
C.橫通孔
D.以上都可以
最新試題
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指（）。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。
用橫波斜探頭檢測(cè)，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯(cuò)誤的是（）。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。