判斷題利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離,只能測定直探頭盲區(qū)的大致范圍。
您可能感興趣的試卷
最新試題
當(dāng)量法用來測量大于聲束截面的缺陷的尺寸。
題型:判斷題
脈沖反射法可對缺陷定性、定量和定位。
題型:判斷題
橫波法主要用于檢測與檢測面成一定傾角的缺陷。
題型:判斷題
單探頭法是反射法,雙探頭法都是穿透法。
題型:判斷題
“靈敏度”意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力,因此超聲波探傷靈敏度越高越好。
題型:判斷題
縱波直探頭法主要用于檢測與檢測面平行的缺陷。
題型:判斷題
底波高度法經(jīng)常作為缺陷回波法的一種輔助手段。
題型:判斷題
與IIW試塊相比,CSKⅠA試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測定斜探頭的分辨力。
題型:判斷題
多探頭法是用兩個以上的探頭同時工作的檢測方法。
題型:判斷題
測定儀器垂直線性和動態(tài)范圍時,應(yīng)將儀器的“抑制”和“深度補(bǔ)償”旋鈕置于關(guān)的位置。
題型:判斷題