CSKⅠA試塊上R100和R50兩個(gè)階梯圓弧面可用來調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測范圍。

單探頭法是反射法，雙探頭法都是穿透法。

脈沖反射法可對(duì)缺陷定性、定量和定位。

雙晶直探頭傾角越大，交點(diǎn)離探測面距離愈遠(yuǎn)，覆蓋區(qū)愈大。

工件比較粗糙時(shí)，為防止探頭磨損和保護(hù)晶片，宜選用硬保護(hù)膜。

穿透法靈敏度高于脈沖反射法。

縱波直探頭法主要用于檢測與檢測面平行的缺陷。

多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。

當(dāng)量法用來測量大于聲束截面的缺陷的尺寸。

測定“始脈沖寬度”時(shí)，應(yīng)將儀器的靈敏度調(diào)至最大。